Koreksi Pasal 9

(1) Rincian kegiatan Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten sesuai jenjang jabatan, sebagai berikut: a. Pemeriksa Paten Pertama, meliputi: 1. mencatat dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri yang diterima; 2. memilah dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri sesuai dengan kategori; www.djpp.kemenkumham.go.id 3. memilah dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri sesuai dengan bidang substansi; 4. memeriksa kelengkapan administrasi dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 5. memeriksa kelengkapan fisik dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 6. memberi label permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 7. menyusun dokumen permohonan substantif paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan paten W dengan 3 (tiga) dokumen permohonan substantif klaim mandiri atau lebih, dan permohonan paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri 8. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 9. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 10. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana normal; 11. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 12. menentukan invensi yang diajukan memenuhi Pasal 6 UNDANG-UNDANG Nomor 14 tahun 2001 tentang Paten; 13. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan Paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten Sederhana Normal; 14. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan Paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 15. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; www.djpp.kemenkumham.go.id 16. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 17. menganalisis konsistensi uraian dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 18. menganalisis konsistensi uraian dalam pemeriksaan Paten Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 19. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 20. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 21. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 22. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 23. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 24. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 25. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 26. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 27. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 28. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 29. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 30. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 31. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 32. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 33. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; www.djpp.kemenkumham.go.id 34. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 35. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 36. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 37. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 38. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 39. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 40. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention). dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 41. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention). dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 42. melakukan pengklasifikasian dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 43. melakukan pengklasifikasian dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 44. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 45. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 46. melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; www.djpp.kemenkumham.go.id 47. melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 48. melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 49. melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 50. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 51. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 52. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 53. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 54. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 55. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 56. menentukan langkah-langkah inventif dengan menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 57. menentukan langkah-langkah inventif dengan Mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 58. menentukan langkah-langkah inventif dengan memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 59. menentukan langkah-langkah inventif dengan mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 60. menentukan langkah-langkah inventif dengan Menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen- dokumen pembanding dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 61. menentukan langkah-langkah inventif dengan Menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 62. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 63. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 64. membuat surat hasil pemeriksaan dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 65. membuat surat hasil pemeriksaan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 66. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 67. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 68. menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 69. menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 70. membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 71. membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 72. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 73. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 74. melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 75. melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 76. membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 77. membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 78. membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; 79. membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 80. membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten Sederhana normal; 81. membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; 82. melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai panelis; 83. melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai pembahas; 84. melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai sekretaris; 85. melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum nasional; 86. melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum internasional; dan 87. melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pelaksana harian. b. Pemeriksa Paten Muda, meliputi: 1. mencatat dokumen permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri yang diterima; 2. memilah dokumen permohonan permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri sesuai dengan kategori; www.djpp.kemenkumham.go.id 3. memilah dokumen permohonan permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandirisesuai dengan bidang substansi; 4. memeriksa kelengkapan administrasi dokumen permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 5. memeriksa kelengkapan fisik dokumen permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 6. memberi label permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 7. menyusun dokumen permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri sesuai dengan urutan dan pemohon; 8. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 9. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 10. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 11. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 12. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 13. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 14. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 15. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 16. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 17. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 18. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 19. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 20. menganalisis konsistensi uraian dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 21. menganalisis konsistensi uraian dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 22. menganalisis konsistensi uraian dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 23. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 24. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 25. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 26. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 27. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 28. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 29. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 30. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 31. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 32. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 33. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 34. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 35. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 36. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 37. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 38. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 39. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 40. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 41. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 42. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 43. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 44. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 45. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 46. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 47. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 48. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 49. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 50. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 51. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 52. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 53. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 54. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 55. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 56. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 57. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention). dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 58. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention). dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 59. melakukan pengklasifikasian dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 60. melakukan pengklasifikasian dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 61. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 62. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 63. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 64. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 65. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 66. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 67. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 68. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 69. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 70. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 71. melakukan penelusuran tambahan dengan menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 72. melakukan penelusuran tambahan dengan menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 73. melakukan penelusuran tambahan dengan menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusurandalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 74. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten gandadalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 75. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 76. melakukan penelusuran tambahan dengan Melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten www.djpp.kemenkumham.go.id ganda dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 77. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 78. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 79. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 80. menentukan langkah inventif dengan menentukan dokumen- dokumen pembanding yang relevan dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 81. menentukan langkah inventif dengan menentukan dokumen- dokumen pembanding yang relevan dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 82. menentukan langkah inventif dengan menentukan dokumen- dokumen pembanding yang relevan dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 83. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 84. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 85. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 86. menentukan langkah inventif dengan memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 87. menentukan langkah inventif dengan memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 88. menentukan langkah inventif dengan memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 89. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi fitur- fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 90. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi fitur- fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 91. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi fitur- fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 92. menentukan langkah inventif dengan menganalisis efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 93. menentukan langkah inventif dengan menganalisis efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 94. menentukan langkah inventif dengan menganalisis efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 95. menentukan langkah inventif dengan menentukan ketidakterdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 96. menentukan langkah inventif dengan menentukan ketidakterdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 97. menentukan langkah inventif dengan menentukan ketidakterdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 98. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 99. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 100.menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 101.membuat surat hasil pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 102.membuat surat hasil pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 103.membuat surat hasil pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 104.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 105.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 106.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 107.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 108.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 109.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 110.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 111.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 112.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 113.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 114.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 115.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 116.melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 117.melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 118.melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 119.memberikan keputusan (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 120.memberikan keputusan (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 121.memberikan keputusan (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 122.membuat surat penarikan kembali Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri yang belum diproses; 123.membuat surat penarikan kembali Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih yang belum diproses; 124.membuat surat penarikan kembali Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri yang belum diproses; 125.membuat surat penarikan kembali Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri yang sedang dalam proses pemeriksaan; 126.membuat surat penarikan kembali Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih yang sedang dalam proses pemeriksaan; 127.membuat surat penarikan kembali Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri yang sedang dalam proses pemeriksaan; 128.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan tahap awal Pemeriksa Paten Pertama; 129.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan tahap lanjutan Pemeriksa Paten Pertama; www.djpp.kemenkumham.go.id 130.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan tahap akhir Pemeriksa Paten Pertama; 131.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan penarikan kembali Pemeriksa Paten Pertama; 132.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai panelis; 133.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai pembahas; 134.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai sekretaris; 135.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum nasional; 136.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum internasional; dan 137.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pelaksana harian. c. Pemeriksa Paten Madya, meliputi: 1. mencatat dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan substantif Paten Sederhana Lengkap yang diterima; 2. memilah dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan substantif Paten Sederhana Lengkap sesuai dengan kategori ; 3. memilah dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Substantif Sederhana Lengkap sesuai dengan bidang substansi; 4. memeriksa kelengkapan administrasi dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Substantif Sederhana Lengkap; 5. memeriksa kelengkapan fisik dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim www.djpp.kemenkumham.go.id mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Substantif Sederhana Lengkap; 6. memberi label dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Substantif Sederhana Lengkap; 7. menyusun dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Sederhana Lengkap sesuai dengan urutan dan pemohon; 8. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 9. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 10. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 11. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 12. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 13. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 14. menentukan invensi yang diajukan memenuhi Pasal 6 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang paten, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 15. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap , dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 16. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap , dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 17. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap , dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; www.djpp.kemenkumham.go.id 18. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 19. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 20. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 21. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 22. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 23. menganalisis konsistensi uraian Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 24. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 25. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 26. menganalisis konsistensi penggunaan istilah Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 27. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 28. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 29. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 30. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 31. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 32. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 33. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 34. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 35. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 36. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 37. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 38. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 39. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 40. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 41. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 42. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 43. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 44. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 45. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 46. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 47. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 48. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 49. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 50. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 51. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 52. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 53. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; www.djpp.kemenkumham.go.id 54. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 55. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter)pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 56. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 57. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 58. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 59. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 60. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 61. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 62. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 63. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam) pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 64. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 65. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 66. menentukan dokumen pembanding terdekat (closest prior art), dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 67. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 68. melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili paten pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 69. melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili paten pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 70. melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 71. melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 72. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 73. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 74. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 75. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 76. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 77. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 78. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 79. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 80. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 81. mengidentifikasi masalah pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 82. mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 83. memformulasikan masalah pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 84. memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 85. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 86. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 87. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 88. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 89. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 90. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 91. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 92. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 93. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 94. membuat surat hasil pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 95. membuat surat hasil pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 96. membuat surat hasil pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 97. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 98. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 99. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 100.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 101.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 102.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 103.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 104.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 105.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 106.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 107.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 108.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 109.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 110.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 111.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 112.melakukan Mediasi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 113.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 114.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 115.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 116.memberikan saran kepada pemohon paten yang diberikan dalam pelaksanaannya kemungkinan harus melanggar paten orang lain untuk pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 117.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 118.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 119.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; www.djpp.kemenkumham.go.id 120.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 121.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 122.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 123.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Muda pada tahap awal; 124.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Muda pada tahap lanjutan; 125.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Muda pada tahap akhir; 126.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Muda untuk penarikan kembali; 127.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai panelis; 128.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai pembahas; 129.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai sekretaris; 130.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penasehat (advisor) di lembaga-lembaga penelitian; 131.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai koordinator pemeriksa antar kantor paten; 132.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai Koordinator pemeriksa untuk mediasi paten; 133.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai ketua kelompok Pemeriksa Paten; 134. 135.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim sistem inovasi nasional; 136.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim ekonomi kreatif; 137.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota dewan riset nasional; 138.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim koordinasi perizinan peneliti asing; 139.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penguji calon pemeriksa paten; 140.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penguji penjenjangan jabatan fungsional pemeriksa paten; www.djpp.kemenkumham.go.id 141.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim penerapan dan pengkajian teknologi; 142.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai juri lomba inovasi nasional; 143.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai tim pelaksanaan paten; 144.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum nasional; 145.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum internasional; dan 146.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pelaksana harian. d. Pemeriksa Paten Utama, meliputi: 1. mencatat dokumen permohonan substantif paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih yang diterima; 2. memilah dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih sesuai dengan kategori; 3. memilah dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri mandiri atau lebih sesuai dengan bidang substansi; 4. memeriksa kelengkapan administrasi dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 5. memeriksa kelengkapan fisik dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 6. memberi label dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 7. menyusun dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri sesuai dengan urutan dan pemohon; 8. menentukan permohonan Paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 9. menentukan permohonan Paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 10. menentukan permohonan Paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 11. menentukan permohonan Paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 12. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 13. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang paten, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 14. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 15. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 16. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 17. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 18. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandirii; 19. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 20. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 21. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 22. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 23. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 24. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 25. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 26. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 27. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 28. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 29. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 30. menganalisis konsistensi simbol satuan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 31. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 32. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 33. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 34. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 35. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 36. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 37. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 38. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 39. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 40. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 41. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 42. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 43. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 44. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 45. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 46. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 47. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 48. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 49. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 50. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 51. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 52. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 53. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 54. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 55. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 56. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 57. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 58. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 59. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 60. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 61. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 62. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 63. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 64. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 65. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 66. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 67. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 68. menentukan dokumen pembanding terdekat (closest prior art), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 69. menentukan dokumen pembanding terdekat (closest prior art), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 70. menentukan dokumen pembanding terdekat (closest prior art), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 71. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 72. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 73. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 74. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 75. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 76. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 77. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 78. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 79. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, paten dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 80. mengidentifikasi masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 81. mengidentifikasi masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri; 82. mengidentifikasi masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 83. memformulasikan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 84. memformulasikan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri; 85. memformulasikan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 86. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 87. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 88. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 89. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 90. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 91. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 92. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 93. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 94. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 95. menerapkan teori murni terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 96. menerapkan teori murni terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri; 97. menerapkan teori murni terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 98. mengevaluasi lingkup klaim pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 99. mengevaluasi lingkup klaim pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 100.mengevaluasi lingkup klaim pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 101.mengevaluasi perubahan/amandemen klaim-klaim terhadap permohonan asli pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 102.mengevaluasi perubahan/amandemen klaim-klaim terhadap permohonan asli pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 103.mengevaluasi perubahan/amandemen klaim-klaim terhadap permohonan asli pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 104.menentukan jika pemohon harus diminta untuk membatasi klaim-klaim terhadap invensi tunggal, bukan pluralitas klaim invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 105.menentukan jika pemohon harus diminta untuk membatasi klaim-klaim terhadap invensi tunggal, bukan pluralitas klaim invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri; 106.menentukan jika pemohon harus diminta untuk membatasi klaim-klaim terhadap invensi tunggal, bukan pluralitas klaim invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 107.mengenali dan mengembangkan pengaruh-pengaruh yang mungkin dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 108.mengenali dan mengembangkan pengaruh-pengaruh yang mungkin dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 109.mengenali dan mengembangkan pengaruh-pengaruh yang mungkin dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 110.MEMUTUSKAN keadaan khusus dimana pemohon mencoba untuk membuat perubahan besar dalam permohonan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 111.MEMUTUSKAN keadaan khusus dimana pemohon mencoba untuk membuat perubahan besar dalam permohonan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 112.MEMUTUSKAN keadaan khusus dimana pemohon mencoba untuk membuat perubahan besar dalam permohonan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id 113.menentukan keefektifan dan/atau kegunaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 114.menentukan keefektifan dan/atau kegunaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 115.menentukan keefektifan dan/atau kegunaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 116.menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 117.menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 118.menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 119.membuat surat hasil pemeriksaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 120.membuat surat hasil pemeriksaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 121.membuat surat hasil pemeriksaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 122.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 123.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri; 124.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 125.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 126.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 127.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 128.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 129.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 130.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 131.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id 132.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 133.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 134.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 135.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 136.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 137.melakukan Mediasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 138.melakukan Mediasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri; 139.melakukan Mediasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 140.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 141.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 142.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 143.memberikan saran kepada pemohon paten yang diberikan dalam pelaksanaannya kemungkinan harus melanggar paten orang lain dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 144.memberikan saran kepada pemohon paten yang diberikan dalam pelaksanaannya kemungkinan harus melanggar paten orang lain dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri 145.memberikan saran kepada pemohon paten yang diberikan dalam pelaksanaannya kemungkinan harus melanggar paten orang lain dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 146.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 147.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri www.djpp.kemenkumham.go.id 148.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 149.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 150.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri 151.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 152.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Madya tahap awal; 153.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Madya tahap lanjutan; 154.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Madya tahap akhir; 155.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Madya penarikan kembali; 156.melakukan penelitian hukum untuk menentukan the state of law sehubungan dengan masalah hukum yang tidak biasa yang mungkin berkembang dalam proses penuntutan atas permohonan; 157.mengevaluasi preseden kasus yang ditemukan dan menentukan penerapannya dengan kasus yang sedang ditangani; 158.mengevaluasi bukti kegunaan dan menentukan pemenuhan aturan hukum untuk tujuan pembuktian kegunaan; 159.menentukan satu dari beberapa permohonan paten yang sama yang diajukan oleh pemohon; 160.menentukan kelengkapan persyaratan keputusan (diberi atau ditolaknya) suatu permohonan paten berdasarkan keterangan-keterangan ahli yang disampaikan oleh pemohon; 161.mengevaluasi penjelasan pemohon dengan melakukan dengar pendapat (hearing); 162.mengevaluasi penjelasan pemohon dengan melakukan mempertimbangkan permintaan hak khusus; 163.mengevaluasi penjelasan pemohon dengan melakukan membuat keputusan mengenai penggunaan invensi tersebut sebelum dimohonkan patennya; 164.memberikan argumen pada Komisi Banding; 165.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di DPR; www.djpp.kemenkumham.go.id 166.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di Pengadilan; 167.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di Kepolisian; 168.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di KPPU; 169.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di intansi terkait lainnya; 170.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai panelis; 171.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai pembahas; 172.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai sekretaris; 173.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penasehat (advisor) di lembaga-lembaga penelitian; 174.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai koordinator pemeriksa antar kantor paten; 175.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai Koordinator pemeriksa untuk mediasi paten; 176.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai ketua kelompok Pemeriksa Paten; 177.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim sistem inovasi nasional; 178.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim ekonomi kreatif; 179.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota dewan riset nasional; 180.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim koordinasi perizinan peneliti asing; 181.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penguji calon pemeriksa paten; 182.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penguji penjenjangan jabatan fungsional pemeriksa paten; 183.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim penerapan dan pengkajian teknologi; 184.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai juri lomba inovasi nasional; 185.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai tim pelaksanaan paten; 186.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum nasional; 187.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum internasional; dan www.djpp.kemenkumham.go.id 188.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pelaksana harian. (2) Pemeriksa Paten yang melaksanakan kegiatan sebagaimana dimaksud pada ayat (1) diberikan nilai angka kredit sebagaimana tercantum dalam Lampiran I yang merupakan bagian tidak terpisahkan dari Peraturan Menteri ini. (3) Pemeriksa Paten yang melaksanakan kegiatan pengembangan profesi dan penunjang tugas Pemeriksa Paten diberikan nilai angka kredit sebagaimana tercantum dalam Lampiran I yang merupakan bagian tidak terpisahkan dari Peraturan Menteri ini.